产品介绍:

HS-MWR-SIM无接触少子寿命测试仪是一款功能强大的无接触少子寿命测试仪，能够对单晶硅棒、多晶硅块及硅片提供快速、无接触、无损伤单点少子寿命测试，其通过微波光电衰退特性原理来测量非平衡载流子寿命的，并且单晶硅棒、多晶硅块无须进行特殊处理。少子寿命测试量程从0.1μs到20ms,电阻率量程为>0.1Ω.cm,,是太阳能电池硅片企业、多晶铸锭企业、拉晶企业不可多得的测量仪器。

产品特点

无接触和无损伤测量

可移动扫描头，便于测量

测试范围广：包括硅块、硅棒、硅片等少子寿命测量

主要应用于硅棒硅块、硅片的进厂、出厂检查，生产工艺过程中重金属沾污和缺陷的监控等

性价比高，极大程度地降低了企业的测试成本

质保期：1年

推荐工作条件

温度：15-30℃

湿度：10%~80%

大气压：750±30毫米汞柱

技术指标

少子寿命测试范围:0.1μs-20ms

测试尺寸:尺寸不限

测试时间：1-30s(具体和信号质量及测试精度有关)

电阻率范围：>0.1Ω.cm

激光波长：980±30nm,测试功率范围：50-500mw,脉冲宽度调节范围：0.5-60μs

仪器测试精度：±3.5％

工作频率：10GHz±0.5

微波测试单元功率：0.01W±10%

电源：～220V 50Hz 功耗＜30W

扫描头尺寸：290mm *200mm *65mm, 电器控制单元: 210mm*220mm*60mm

扫描头重量：3KG，电器控制单元：1kg

典型客户

河北，江西，江苏，浙江，新疆等地拉晶铸锭客户。